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题名:
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半导体器件的可靠性 ban dao ti qi jian de ke kao xing / 中国科学技术情报研究所重庆分所编辑 , |
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ISBN:
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价格： ￥1.15 |
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语种:
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chi |
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载体形态:
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173页 26cm |
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出版发行:
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出版地： 重庆 出版社： 科学技术文献出版社重庆分社 出版日期： 1977 |
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主题词:
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半导体技术-可靠性试验 文集 |
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主题词:
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可靠性试验-半导体技术 文集 |
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中图分类法:
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TN306-53 版次： 3 |
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中图分类法:
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TN306 版次： |
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主要团体责任者:
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中国科学技术情报研究所重庆分所 zhong guo ke xue ji shu qing bao yan jiu suo chong qing fen suo 编辑 |
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索书号:
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TN306/8060:3 |