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题名:
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电子器件和集成电路单粒子效应 Dian Zi Qi Jian He Ji Cheng Dian Lu Shan Li Zi Xiao Ying / 曹洲，安恒，高欣编著 , |
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ISBN:
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978-7-5682-9656-4 价格： CNY138.00 |
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语种:
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chi |
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载体形态:
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458页 图 24cm |
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出版发行:
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出版地： 北京 出版社： 北京理工大学出版社有限责任公司 出版日期： 2021 |
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内容提要:
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本书阐述了电子器件和集成电路空间单粒子效应的基本概念和原理，试验测试的基础理论与方法，单粒子效应对电子系统的影响及防护设计的基本方法，空间单粒子翻转率计算方法及不确定性分析等方面的内容。 |
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主题词:
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电子器件 单粒子态 |
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主题词:
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集成电路 单粒子态 |
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中图分类法:
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TN103 版次： 5 |
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中图分类法:
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O571.24 版次： 5 |
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主要责任者:
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曹洲 Cao Zhou 编著 |
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主要责任者:
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安恒 An Heng 编著 |
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主要责任者:
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高欣 Gao Xin 编著 |
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附注:
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国之重器出版工程国防现代化建设 |
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附注:
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国家出版基金项目“十三五”国家重点出版物出版规划项目 |
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索书号:
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TN103/5532 |